Ученые из тверского "Политеха" вместе со своими коллегами из Томска представили миру свое новое исследование - найден способ до десяти раз повысить точность микроскопов с нанометровым разрешением, пишет на своих страницах
РИА Новости.
Исследователи из Томского политехнического университета и ТвГТУ предложили метод компенсации колебаний иглы микроскопа, которые оказывали негативное влияние на качество изображения. Результаты исследования опубликовал журнал
Applied Surface Science Volume.
Предложенный метод позволяет предотвратить негативное влияние вибрации иглы микроскопа на качество изображения. Это обеспечивает более высокую степень точности определения фрагмента исследуемой поверхности — от двух до десяти раз в зависимости от ее топографии и соразмерности ее неровностей размеру иглы.
Совместная разработка томских и тверских ученых в дальнейшем может стать полезной для самых различных наноотраслей. В частности - в медицине при проведении операций на стенках сосудов.
На правах рекламы. Возрастное ограничение 0+. Рекламодатель ООО «СВ Медиа. Тверь». ИНН 6901088393. Erid 3apb1QrvkfA8QXzyeYhnvfyThWC4SQEPkgTzUGbjHuZt3
